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  • 晶體與晶振的基本參數(shù)詳解
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  1、晶體振動與晶體的區(qū)別

  2)晶體(無源)通常是一種非極性元素,直接插入兩英尺。它需要一個時鐘電路來產(chǎn)生振蕩信號。普通49U,49S包裝。

  3)晶振(有源)通常封裝在桌子上,有四個腳。內(nèi)部時鐘電路只能通過電源產(chǎn)生振蕩信號。一般有7050、5032、3225、2520種包裝形式。

  2、MEMS硅晶振和石英晶振的區(qū)別

  MEMS的硅晶振是以硅為原料,采用先進的半導體技術(shù)制成的。因此,與石英相比,它在高性能、低成本方面具有明顯的優(yōu)勢,具體表現(xiàn)在以下幾個方面:

  1)全自動半導體技術(shù)(芯片級),無氣密性問題,永不停止振動。

  2)具有無溫度漂移的溫度補償電路,保證全溫-40-85℃。

  3)平均無故障工作時間為5億小時。

  4)地震性能是石英振蕩器的25倍。

  5)支持1-800MHz的任意頻點,精確輸出5位小數(shù)。

  6)支持1.8V、2.5V、2.8V、3.3V多電壓匹配。

  7)支持10ppm、20ppm、25ppm、30ppm、50ppm等精度匹配。

  8)支持7050、5032、3225和2520的所有標準尺寸包裝。

  9)標準四腿和六腿封裝直接取代石英振蕩器,無需任何設計變更。

  10)支持差分輸出、單端輸出、電壓控制(VCXO)、溫度補償(TCXO)等產(chǎn)品類別。

  11)市場增長率300%有望在三年內(nèi)取代80%以上的石英振蕩器市場。

  3、晶體諧振器等效電路

  晶體振蕩和晶體參數(shù)的詳細解釋

  上圖是一個簡化電路,其阻抗特性與諧振頻率附近的晶體諧振器相同。其中:C1為動態(tài)電容器,也稱為等效串聯(lián)電容器;L1為動態(tài)電感,也稱為等效串聯(lián)電感;R1為動態(tài)電阻,也稱為等效串聯(lián)電阻;C0為靜態(tài)電容器,也稱為等效并聯(lián)電容器。

  在這個等效電路中,有兩個最有用的零相位頻率,一個是共振頻率(fr),另一個是反共振頻率(fa)。當在振蕩電路中使用晶體元件時,它們通常與負載電容器相連,使晶體在fr和fa之間的頻率下工作。這個頻率由振蕩電路的相位和有效電抗決定。通過改變電路的電抗條件,可以在一定范圍內(nèi)調(diào)節(jié)晶體的頻率。

  4、關(guān)鍵參數(shù)

  4.1額定頻率

  指晶體元件規(guī)范中規(guī)定的頻率,即用戶在電路設計和元件選擇中所需的理想工作頻率。

  4.2調(diào)整頻差

  參考溫度下工作頻率與額定頻率的最大允許偏差。常見的PPM表示

  如果將ppm轉(zhuǎn)換為百分比符號“%”,則為1 ppm=0.0001%。

  但是在大多數(shù)科技期刊中,他們使用厘米()來將ppm轉(zhuǎn)換為:1 ppm=0.001。

  ppm指百萬分之一。同樣,b和t分別表示十億和萬億。

  1 ppm=10 ^-6量級,類似于ppb、ppt等,分別為-9倍和-12倍。

  4.3溫度頻率差

  整個溫度范圍內(nèi)工作頻率與參考溫度的允許偏差。通常用ppm表示。

  4.4老化率

  特定條件下時間引起的頻率漂移。該指示器對于精確的晶體是必要的,但它“沒有明確的測試條件,而是由制造商通過計劃的所有產(chǎn)品的現(xiàn)場測試持續(xù)監(jiān)控。某些晶體元素可能比要求的水平更差,這是允許的(根據(jù)國際電工委員會的公告)。解決老化問題的最好方法是制造商和用戶之間的密切協(xié)商。

  4.5諧振電阻(RR)

  在諧振頻率下,晶體元件的等效電阻約等于所謂的動態(tài)電阻R1或等效串聯(lián)電阻(ESR),而不考慮C0的影響。此參數(shù)控制晶體元件的品質(zhì)因數(shù),并決定應用電路中的晶體振蕩水平,從而影響晶體的穩(wěn)定性和能否實現(xiàn)理想的啟動。因此,它是晶體元素的一個重要參數(shù)。一般來說,對于給定的頻率,所選晶體盒越小,平均ESR可能越高;在大多數(shù)情況下,特定晶體元件的電阻在制造過程中無法預測,但只能保證低于規(guī)范中給出的最大值。

  4.6負載諧振電阻(RL)

  在負載諧振頻率fl下,與規(guī)定外電容串聯(lián)的晶體元件的電阻。對于給定的晶體元件,其負載諧振電阻值取決于與該元件一起工作的負載電容值。串聯(lián)負載電容的諧振電阻總是大于晶體元件本身的諧振電阻。

  4.7負載電容(cl)

  負載諧振頻率fl的有效外電容與晶體元件一起確定。晶體元素規(guī)范中的氯離子既是一種測試條件,又是一種使用條件。該值可根據(jù)用戶的具體用途進行調(diào)整,對FL的實際工作頻率進行微調(diào)(即可調(diào)整晶體的制造公差)。但它有一個合適的值,否則會使振蕩電路惡化。該值通常采用10 pF、15 pF、20 pF、30 pF、50 pF和。當標記cl時,意味著cl是在沒有附加負載電容的串聯(lián)諧振電路中應用的,其工作頻率是晶體(串聯(lián))諧振頻率fr。用戶應注意,對于某些晶體(包括非封裝振蕩器應用),電路實際電容的偏差(+0.5pf)會產(chǎn)生(+10*10-6)在生產(chǎn)規(guī)格的給定負載電容下的頻率誤差(特別是對于小負載電容)。因此,負載電容是一個非常重要的階躍規(guī)范指標。

  4.8靜態(tài)電容器(C0)

  等效電路靜臂中的電容。其尺寸主要取決于電極面積、晶片厚度和晶片加工技術(shù)。

  4.9動態(tài)電容(C1)

  等效電路動態(tài)臂的電容。它的大小主要取決于電極的面積,也與晶圓的平行度和微調(diào)的大小有關(guān)。

  4.10動態(tài)電感(l1)

  等效電路動態(tài)臂中的電感。動態(tài)電感和動態(tài)電容是一對相互關(guān)系式。

  4.11共振頻率(fr)

  在特定條件下,晶體元件的阻抗是兩個電阻頻率中的較低值。根據(jù)等效電路,當不考慮C0的影響時,fr由c1和l1確定,近似等于所謂的串聯(lián)(分支)共振頻率(fs)。這個頻率是晶體的自然共振頻率。在高穩(wěn)定度晶振的設計中,將其作為設計參數(shù),使晶振在額定頻率下穩(wěn)定工作,確定頻率調(diào)節(jié)范圍,并設置頻率微調(diào)裝置。

  晶體振蕩和晶體參數(shù)的詳細解釋

  4.12負載共振頻率(FL)

  在特定條件下,晶體元件與負載電容器串聯(lián)或并聯(lián),當其為電阻時,其組合阻抗為兩個頻率的一個頻率。在串聯(lián)負載電容器中,F(xiàn)L是兩個頻率中較低的頻率;在并聯(lián)負載電容器中,F(xiàn)L是較高的頻率。對于給定的負載電容值(cl),兩個頻率的實際效果相同;以及

  該頻率是大多數(shù)晶體應用電路中的實際頻率,也是制造商滿足用戶要求的產(chǎn)品滿足額定頻率的測試指標參數(shù)。

  晶體振蕩和晶體參數(shù)的詳細解釋

  4.13質(zhì)量系數(shù)(Q)

  品質(zhì)因數(shù)又稱機械Q值,是反映諧振器性能的重要參數(shù)。與L1、C1有以下關(guān)系:

  Q=wl1/r1=1/wr1c1

  如上所述,R1越大,Q值越低,功耗和頻率不穩(wěn)定性越大。反之,Q值越高,頻率越穩(wěn)定。

  4.14驅(qū)動水平

  用耗散功率表示的晶體元件的激發(fā)條件的量度。所有晶體元件的頻率和電阻在一定程度上隨激勵電平的變化而變化,稱為激勵電平依賴性(DLD)。因此,在實際的晶體應用電路中,訂單規(guī)格中的激勵電平必須是激勵電平。由于晶體元件激勵電平的內(nèi)在相關(guān)性,在設計振蕩電路和使用晶體時,用戶必須注意并保證不存在低激勵電平、啟動不良或激勵頻率異常的現(xiàn)象。

  4.15勵磁水平依賴性(DLD)

  由于壓電效應,激勵水平迫使諧振子產(chǎn)生機械振蕩。在這個過程中,加速功轉(zhuǎn)化為動能和彈性能,動力消耗轉(zhuǎn)化為熱能。后者是由石英諧振子的內(nèi)外摩擦引起的。

  摩擦損失與振動粒子的速度有關(guān)。當振動不再是線性的,或石英振子或其表面和懸置點的張力或應變、位移或加速度達到臨界值時,摩擦損失將增大。因此,頻率和電阻會發(fā)生變化。

  在處理過程中導致DLD損壞的主要原因如下。結(jié)果可能是它不能啟動。

  1)諧波振蕩器表面存在粒子污染。主要原因是生產(chǎn)環(huán)境不干凈或與晶圓表面非法接觸。

  2)諧振子的機械損傷。主要原因是磨削過程中的劃痕。

  3)電極內(nèi)有微粒或銀球。主要原因是真空室不干凈,鍍膜速度不當。

  4)安裝時電極接觸不良;

  5)支架、電極和石英板之間存在機械應力。

  4.16 DLD2(單位:歐姆)

  不同激勵水平下負載諧振電阻的最大值與最小值之差。(例如從0.1UW到200UW,總共20步)。

  4.17 RLD2(單位:歐姆)

  不同激勵水平下負載諧振電阻的平均值接近諧振電阻Rr,但較大。(例如從0.1UW到200UW,總共20步)。

  4.18寄生響應

  除主響應(所需頻率)外,所有晶體元件都有其他頻率響應。減小寄生響應的方法是改變晶圓的幾何尺寸、電極和晶圓加工工藝,同時改變晶體的動態(tài)和靜態(tài)參數(shù)。

  寄生響應測量

  1)SPDB使用db表示fr的大小和最大寄生大小之間的差異。

  2)最大寄生位置處的支路電阻;

  3)SPFR寄生最小電阻與諧振頻率之間的距離用Hz或ppm表示。

  5。晶振分類

  5.1封裝石英振蕩器(SPXO)

  無溫度控制和補償?shù)氖⒄袷幤?。頻率和溫度特性取決于石英振蕩晶體本身的穩(wěn)定性。

  5.2溫度補償石英振蕩器(TCXO)

  附加溫度補償電路降低了石英振蕩器的頻率,該頻率隨周圍溫度的變化而變化。

  5.3壓控石英振蕩器(VCXO)

  控制外部電壓以改變或調(diào)整輸出頻率的石英振蕩器。

  5.4恒溫槽石英振蕩器(OCXO)

  恒溫槽石英振子或在一定溫度下的石英振子晶體,以及在環(huán)境溫度下通過控制其輸出頻率來維持最小變化的石英振子。

  除上述四種振蕩器外,隨著鎖相環(huán)、數(shù)字和存儲技術(shù)的應用,各種功能的石英振蕩器也在迅速增長。

 



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