一、由于對印刷電路板進行熱測試，晶體振蕩器晶體不工作或頻率變化。
1、取下晶體，測試其頻率和電阻，以確定石英晶體振蕩是否振蕩，并使用熱測試儀來滿足規(guī)范要求。您也可以將其發(fā)送給晶體供應商進行測試。（熱試驗點應至少相隔10個\/1個試驗點）
2、如果在工作溫度范圍內電阻和頻率超過規(guī)格，請將晶體送廠家進行質量分析和進一步改進。
3、當晶體通過熱測試時，請檢查振蕩電路和其他元件的特性，如外部電容器的溫度特性、芯片電路的溫度特性等。
二、石英晶體安裝在印刷電路板上時不會振動。
1、用示波器或頻率計測量晶體兩端的信號。如果頻率和負載電容符合您的規(guī)格，并且晶體通過DLD測試，我們將需要等效電路測試。當信號輸出信號小而波形幅度小時，用示波器或頻率計測量晶體兩端的信號。如果頻率遠高于目標頻率，則使用cl lower。晶體，反之亦然。
2、請取出晶體并測試其頻率和負載電容，以確定它們是否會振動，使用專業(yè)的測試機器并符合您的規(guī)格。您也可以將它們發(fā)送給供應商進行測試。
3、如果出現(xiàn)以下情況，如晶體振動、負載電容不符合您的要求，或當前頻率與目標頻率之間存在巨大差距，請將晶體送至您的供應商進行質量分析。
4、如果頻率和負載電容符合您的規(guī)格，石英晶體通過DLD測試，我們將需要等效電路測試。
如果晶體的參數(shù)正常，但在振蕩電路中工作不穩(wěn)定，則必須查明IC的電阻值是否太低而不能驅動電路。
5、如果晶體振蕩器未通過DLD測試，請將其發(fā)送給您的供應商進行質量分析，以便進一步改進。
三、當晶體安裝在印刷電路板上時，晶體頻率隨時間的分布過寬或頻率受雜散電容的影響較大。
該曲線表示電容和頻率的變化（頻率變化）
除外部電路調整外，晶體參數(shù)的特性也影響頻率牽引范圍。參考參數(shù)為微調靈敏度（ts）、c0/c1（r）、c1、c0等，各參數(shù)與頻率可拔性的關系如下：c0'，c1a'，c0/c1（r）？“，ts”，可拉伸性
1、根據(jù)上述石英晶體的拉伸能力曲線，電容越小，對頻率變化的影響越大。如果頻率分布太寬，請遵循以下方法：
a.增加cd和cg的電容值，使用負載電容（cl）較大的晶體振蕩器晶體。
b.CD和CG使用更復雜的電容器（電容變化非常?。?。
c.使用更復雜的晶體（頻率變化?。?。
方法（a）和方法（b）是有效的和具有成本效益的。
2、此外，如果由于印刷電路板的雜頻率分布不散電容導致能滿足規(guī)范要求，則可能需要基于雜散電容源的新布局。
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